190nm-1100nm掃描式激光光束輪廓分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8
更新時(shí)間：2024-03-21
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NanoScan 2s Si/3.5/1.8 掃描式激光光束輪廓分析儀
NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測(cè)器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。
光束尺寸7µm至~2.3mm
功率級(jí)范圍為~10nW至~10W
USB 2.0接口
包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件
PH00456
NS2s-SI/3.5/1.8-STD
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫
PH00464
NS2s-Si/3.5/1.8-PRO
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫
產(chǎn)品規(guī)格
產(chǎn)品名稱：NanoScan 2s Si/3.5/1.8
傳感器類型：Silicon Photodetector
光譜范圍：190 to 1100 nm
狹縫尺寸：1.8 µm
孔徑尺寸：3.5 mm
光束尺寸：7 μm to 2.3 mm
掃描頭尺寸：83 mm
功率范圍：10 nW to 10 W
通信：USB 2.0
